Dynamische Testsysteme2020-07-20T10:46:08+00:00

Dynamische H(3)TRB / HTGS / RTGS Testsysteme

Lebensdauer und Zuverlässigkeit von Wide-Bandgap-Materialien wie SiC und GaN sind ein hochaktuelles Thema. Hier stehen neue Fehlermechanismen im Fokus, deren Effekte sich nicht mit den traditionellen H(3)TRB/HTGS zeigen – die aber trotzdem Einfluss auf die reale Applikation haben.

Diese Lücke in der Qualifikation wird durch dynamische Tests geschlossen, deren Anforderungen deutlich über die bisherigen Test-verfahren hinausgehen und die stärker an der Applikation orientiert sind.

Die SET bietet für dynamische H(3)TRB / HTGS / RTGS Systeme an, die die erweiterten Anforderungen aus der Industrie in automatisierte dynamische Tests umsetzen. Besonderer Fokus liegt hierbei auf der Flexibilität, um veränderte Anforderungen schnell abbilden zu können.

Zu den System Features ↓

Dynamische Testsysteme: Features

Das Testsystem testet Prüflinge auf Veränderungen der Eigenschaften, die in der Applikation durch die Ansteuerung des Gates entstehen. Über die Lebenszeit der Applikation können hier Effekte auftreten, die die Leistungsfähigkeit des Halbleiters beeinträchtigen.

Key Benefits:

  • 40 Test channels
  • Gate V+ and V- SW configurable, Wide Bandgap Compatible
  • Gate du/dt configurable
  • Stress Frequency up to 300khz
  • In-situ Gate Threshold measurement
  • Hot/cool Plate for DUTs, -10°C to 200°C

Der herkömmliche statische H3TRB untersucht im Wesentlichen das Verhalten eines Bauteils unter Spannung und bei hoher Luftfeuchtigkeit. Hier kann es im Gerät zu verschiedenen Effekten kommen – darunter auch die Korrosion von Materialien bei angelegter statischer Spannung.

In der Applikation treten jedoch insbesondere bei den neuen Wide-Bandgap-Technologien (SiC/GAN) zusätzlich zur statischen Spannung hohe Spannungsänderungen auf. Diese Spannungsänderungen beschleunigen durch die konstanten Feldänderungen mögliche Korrosionen deutlich. Dies kann zu einem deutlich früheren Ausfall der Halbleiter in der Applikation führen als durch den statischen H3TRB-Test zu erwarten wäre.

Die SET bietet als Erweiterung zu Ihren H(3)TRB Systemen ein dynamisches Stimuli der diskreten Bauteile oder Module im H3TRB-Test an. Dieser Test mit dynamischer Komponente ist insbesondere für Applikationen mit hohen Spannungsänderungen Voraussetzung, um solide Aussagen über die Lebensdauer zu treffen.

Key Benefits:

  • 40/80/160/240 Test channels
  • Voltage Range SW Configurable up to 1200V
  • Frequencies up to 350khz

Forschung, Entwicklung & Standardisierung

Um die Relevanz dynamischer Lebensdauertests zu belegen, hat die SET GmbH in ihrer Forschungs- & Entwicklungsabteilung Testaufbauten vorgenommen, Parameter definiert und anhand eines der gängigsten Messverfahren mehrere marktübliche SiC-Komponenten dynamischen HTGS- und H3TRB-Tests unterzogen.

Darüber hinaus ist die SET im Co-Chair der ECPE Arbeitsgruppe zur Guideline AQG 324 und erarbeitet dort europäische Qualifizierungsrichtlinien für Leistungsmodule in Umrichtern in Kraftfahrzeugen, um die neuen Testanforderungen industrieweit zu vereinheitlichen und standardisieren.

Display with measurements of the HTRB Testsystem
Three HTRB Testsystems in a row
Temperature Chamber HTRB