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RELIABILITY TEST SYSTEMS

for power semiconductors

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Halbleitertestsysteme2020-11-13T11:14:03+00:00

Halbleitertestsysteme

für eine lückenlose Überwachung Ihrer Prüflinge

HTRB Halbleitertestsystem

Durch Entwicklung und Einsatz neuer Technologien und Materialien erfährt die Leistungshalbleiter-Branche einen rasanten Wandel: Neue Wide-Bandgap Materialien wie SiC oder GaN erobern den Markt und bringen neue Herausforderungen im Testen mit sich.

Zu den aktuellen Trends im Power Semiconductor Testing finden Sie hier ein Interview von SET CEO Frank Heidemann in der Zeitschrift Markt&Technik 42/2020.

Mit den SET Halbleitertestsystemen sind Sie gut aufgestellt für präzise Zuverlässigkeitstests: Wir bieten Ihnen hohe DUT-Stückzahlen pro System und hochauflösende Daten als Analysebasis und reduzieren damit Testkosten und Testzeit. Darüber hinaus beschäftigen wir uns intensiv mit neuen, dynamischen Testverfahren für die Qualifikation von SiC-Leistungshalbleitern.

Wir bieten folgende standardisierte Prüfsysteme zur Untersuchung unterschiedlicher Bereiche und Materialeigenschaften der Halbleiter:

  • H(3)TRB – High (Humidity, Voltage and) Temperature Reverse Bias
  • HTGB – High Temperature Gate Bias
  • RTGB – Room Temperature Gate Bias
  • Dynamische H3TRB, HTGB & RTGB
  • IOL – Intermittent Operating Life
  • Power Cycling
  • HTOL – High Temperature Operating Life

Durch unsere langjährige Erfahrung, den engen Kontakt zu unseren Kunden, die Zusammenarbeit mit Hochschulen und die Mitgliedschaft im European Center for Power Electronics e.V. (ECPE) entwickeln wir die neuesten Technologien mit und stellen so sicher, dass unsere Halbleitertestsysteme aktuellste Anforderungen erfüllen.

In der ECPE ist die SET im Co-Chair der Arbeitsgruppe zur Guideline AQG 324 zur Definition der Europäischen Qualifizierungsrichtlinien für Leistungsmodule in Umrichtern in Kraftfahrzeugen. Hier trägt die SET mit ihrer Expertise dazu bei, die Mobilität der Zukunft sicherer zu machen.

Darüber hinaus richtet die SET seit Jahren den Power Semiconductor Reliability Round Table für die Leistungshalbleiter-Branche aus.