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FULLY AUTOMATED

test execution

HTOL Testsysteme2020-08-21T13:39:00+00:00

HTOL Testsysteme

Geringer TCoT bei hoher Qualität und Durchsatz

Unsere HTOL -Systeme steigern Messqualität & Durchsatz bei gleichzeitiger Reduzierung der Total Cost of Test (TCoT) auf einer offenen Plattform. Im Fokus stehen dabei eine präzise Temperierung und lückenlose Überwachung eines jeden Prüflings.

 

System Besonderheiten

  • Lückenlose Aufzeichnung aller Prüflinge über gesamten Prüflauf
  • Exakte Temperierung jedes Prüflings auf dessen Halbleiterstruktur
  • RF Belastung der Prüflinge möglich
  • Hoher Durchsatz pro System
  • Voll automatisierte Testdurchführung
  • Automatisches Weiterführen von Prüflingen nach Charakterisierung
  • Freiprogrammierbares Testsystem basierend auf National Instruments COTS Plattform
  • Keine Testabbrüche durch defekte Prüflinge
  • Integrierte Sicherheitstechnik
HTOL

Technische Daten

Devices under test (DUT‘S) per system (fully monitored)

16

DUT supply voltage (VDD)

1 V – 5.5 V

VDD output current per DUT

10 mA

VDD remote sense

VDD and supply current monitoring

VDD adjustable and switchable by software

Flexible FPGA DUT communication

Single DUT junction temperature control

Adjustable test temperature

50 °C – 175 °C

Power dissipation per DUT

500 mW

Ramp up time (25 °C to 175 °C)

< 20 min

Ramp down time (175 °C to 50 °C)

< 30 min

Virtual Tj measurement

RF Stimuli Frequency

600 MHz – 2200 MHz

RF Stimuli power

10 W