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FULLY AUTOMATED

test execution

HTOL Testsysteme2018-10-31T10:04:08+00:00

HTOL Testsysteme

Geringer TCoT bei hoher Qualität und Durchsatz

Unsere HTOL -Systeme steigern Messqualität & Durchsatz bei gleichzeitiger Reduzierung der Total Cost of Test (TCoT) auf einer offenen Plattform. Im Fokus stehen dabei eine präzise Temperierung und lückenlose Überwachung eines jeden Prüflings.

 

System Besonderheiten

  • Lückenlose Aufzeichnung aller Prüflinge über gesamten Prüflauf
  • Exakte Temperierung jedes Prüflings auf dessen Halbleiterstruktur
  • RF Belastung der Prüflinge möglich
  • Hoher Durchsatz pro System
  • Voll automatisierte Testdurchführung
  • Automatisches Weiterführen von Prüflingen nach Charakterisierung
  • Freiprogrammierbares Testsystem basierend auf National Instruments COTS Plattform
  • Keine Testabbrüche durch defekte Prüflinge
  • Integrierte Sicherheitstechnik
HTOL

Technische Daten

Devices under test (DUT‘S) per system (fully monitored)

16

DUT supply voltage (VDD)

1 V – 5.5 V

VDD output current per DUT

10 mA

VDD remote sense

VDD and supply current monitoring

VDD adjustable and switchable by software

DUT IO voltage (VIO)

1.2 V – 3.6 V

VIO output current per DUT

10 mA

VIO remote sense

VIO adjustable and switchable by software

DUT stimulation

FPGA

DUT stimulation voltage level

VIO

DUT stimulation – output

5

DUT stimulation – bidirectional

1

Single DUT junction temperature control

Adjustable test temperature

50 °C – 175 °C

Power dissipation per DUT

500 mW

Ramp up time (25 °C to 175 °C)

< 20 min

Ramp down time (175 °C to 50 °C)

< 30 min

DUT temperature control surface

30 mm x 30 mm

External DUT temperature sensor

PT100

External DUT temperature sensor – connection

4-wire

External DUT temperature sensor – excitation current

0.9 mA

External DUT temperature sensor – Resistance

0 Ω – 400 Ω

Internal DUT temperature measurement

Diode

Internal DUT temperature measurement – connection

4-wire

Internal DUT temperature measurement – excitation current

1 µA – 5 µA

Internal DUT temperature measurement – voltage

0 V – 600 mV

RF testing system

Frequency

600 MHz – 2200 MHz

DUT RF power

10 W