Durch den wachsenden Einsatz von Leistungselektronik überall in unserem Umfeld – vom Automobil bis zur Windkraftanlage, von Solarpark bis E-Bike – ist es wichtiger denn je, die Leistungshalbleiter präzisen und detaillierten Zuverlässigkeitstests zu unterziehen.

Mit unseren Halbleitertestsystemen (HTRB, H3TRB, HTOL, IOL, Power Cycling) lohnt sich der Aufwand doppelt – Neben hohen DUT-Stückzahlen pro System bieten wir Ihnen hochauflösende Daten als Analysebasis und reduzieren somit die TCoT bei gleichzeitiger Reduzierung der Testzeit.

Besuchen Sie uns auf der PCIM 2017 (16.-18.05.2017, Nürnberg, Halle 7, Stand 237) um mehr über unsere innovativen, vollautomatisierten Halbleitertestsysteme zu erfahren.