Testing as a Service
Lassen Sie uns Testen
SET testet Ihre Leistungshalbleiter nach neuesten Standards und mit modernsten Testtechnologien. Flexibel und zuverlässig.
Ob als Dienstleistung oder Leasing:
Testen Sie Ihre Leistungselektronik mit modernsten Testtechnologien
Durch die langjährige Erfahrung von SET, den engen Kontakt zu unseren Kunden, die Zusammenarbeit mit Hochschulen und die Mitgliedschaft im European Center for Power Electronics e.V. (ECPE) entwickeln wir die neuesten Technologien mit und stellen so sicher, dass unsere Halbleitertestsysteme die aktuellsten Anforderungen erfüllen. Dieses Know-how können Sie in Anspruch nehmen und Ihre Elektronik-Bauteile direkt bei SET testen lassen und somit Ihr Testing an den Experten auslagern.
Mit Testing as a Service steht Ihnen ein erweitertes Dienstleistungsangebot der SET zur Verfügung, das sich perfekt Ihrer aktuellen Unternehmenssituation anpasst. Zu Ihrer Entlastung können wir Zuverlässigkeitstests für Leistungshalbleiter mit allen verfügbaren statischen und dynamischen Verfahren bei uns im Haus durchführen. Oder Sie leasen ein Testsystem, statt es zu kaufen, wenn das Ihrer Unternehmensplanung besser entgegenkommt.
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Verfügbar in:
- ENGLISCH
Ihre Vorteile
SET zielt darauf ab, Schwachstellen in Leistungshalbleitern zu ermitteln. Schwachstellen haben einen entscheidenden Einfluss auf die Zuverlässigkeit der elektrischen Baukomponenten. Mit ihren Testverfahren findet SET die genannten Schwachstellen innerhalb weniger Tage und verschafft Ihnen die Möglichkeit, sie schnellstmöglich zu beheben, noch bevor die Produktion beginnt.
- Unterstützung vor, während und nach dem Testing
- Direkter Kontakt zu erfahrenen SET-Testsystementwicklern und -ingenieuren
- Geringere Kosten während des Produktlebenszyklus
- Schnelle Ergebnisse innerhalb weniger Tage mit einem ausführlichen Messbericht
- Das Resultat: ein geprüftes Produkt mit höherer Zuverlässigkeit
Siliziumcarbid und Galliumnitrid:
Eigenschaften und Anwendungsbereiche neuer Materialien
SET ist der Spezialist für das Testing von Wide Bandgap Materialien, wie SiC und GaN und technologisch führend bei dynamischen Testsystemen. Die Materialeigenschaften eignen sich für den Bau von Halbleitern, die in besonders anspruchsvollen Anwendungsbereichen zum Einsatz kommen, wie beispielsweise E-Mobilität, die von einer Optimierung des Antriebs, einer höheren Batteriereichweite und einer kürzeren Batterieladezeit profitiert. Mit den Testsystemen und innovativen Messungen von SET wird die zuverlässige Performance dieser neuartigen Materialien sichergestellt, die sich auf dem Markt immer stärker durchsetzen. Verglichen mit Silizium bieten Siliziumcarbid und Galliumnitrid entscheidende Vorteile für die Produktion hochleistungsfähiger Halbleiter:
- Können größere elektrische Spannungen mit einer höheren Frequenz schalten
- Sparen Energie, weil geringere Wärmeverluste zu einem höheren Wirkungsgrad führen
- Vertragen hohe Umgebungstemperaturen besser
- Liefern bei gleichem Temperaturanstieg mehr Leistung
- Ermöglichen bei gleichem Leistungsdurchsatz den Bau leichterer und kostengünstigerer Systeme mit kleineren Lüftungs- und Peripheriekomponenten
Unser Testversprechen: zuverlässige Testergebnisse
Wenn Sie das Testsystem derzeit nicht beschaffen können oder sich unschlüssig sind, aber dennoch die Tests benötigen, können Sie Ihre Elektronik-Komponenten von uns flexibel und nach Ihren Vorgaben testen lassen – oder Sie können das Testsystem mieten und die Tests selbst durchführen.
Wir prüfen und messen für Sie – Sie senden uns Ihre Prüflinge und wir testen diese beispielsweise 300, 500 oder 1.000h, je nach Bedarf und Testart.
Anschließend erhalten Sie umfassende Auswertungen und Ergebnisse.
Test-Service-Möglichkeiten Reliability Testing
| Testing as a Service | Leasing | |
| Dynamische H3TRB / DRB | ||
| Dynamische HTGB / HTGS / DGS / DGB | ||
| H(3)TRB & HTGB (Statische High Performance & High Volume Tests) | ||
| Power Cycling Tests | Auf Anfrage | Auf Anfrage |
| IOL (Intermittent Operating Life) |
Wählen Sie den passenden Semiconductor Reliability Test aus
Dynamische H3TRB / DRB Testsysteme
Innovative Zuverlässigkeitstests für SiC- und GaN-Halbleiter
Wir testen nach Ihren Anforderungen.
Zu den dynamischen H3TRB / DRB Testsystemen
Dynamische HTGB / DGS Testsysteme
Gate-Stresstest für SiC- und GaN-Halbleiter
Wir testen nach Ihren Anforderungen.
Zu den dynamischen HTGB / DGS Testsystemen
H(3)TRB & HTGB / HTGS Testsysteme
High Performance & High Volume Tests – Standardisierte Testlösungen für die Zuverlässigkeit Ihrer Leistungshalbleiter
Wir testen nach Ihren Anforderungen.
Zu den HTRB, H3TRB & HTGB / HTGS Testsystemen
Power Cycling & IOL Testsysteme
Effiziente Tester mit modularem System für eine schnelle Skalierbarkeit
Wir testen nach Ihren Anforderungen.
Zu den Power Cycling & IOL TestsystemenANFRAGE
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Wir testen für Sie. Unser Support-Team steht Ihnen jederzeit gerne für Fragen zur Verfügung und berät Sie, welche Testmöglichkeiten für Ihre Anforderungen die Richtigen sind.
