SET ist jetzt NI.

NI treibt die Entwicklung von Testsystemen für Leistungshalbleiter, Luft- und Raumfahrt mit der Übernahme der SET GmbH voran.

Innovative Testsysteme für Leistungshalbleiter von SET auf der PCIM 2022

Besuchen Sie uns in Halle 6 am Stand 410 auf der PCIM 2022 in Nürnberg und erfahren Sie mehr über Zuverlässigkeitstests mit den Halbleiter-Testsystemen von SET.

Die Halbleiterindustrie ist im Umbruch. In der Leistungselektronik tritt die Anforderung der klimaschonenden Energieeffizienz in den Vordergrund, u.a. begleitet von einer weitreichenden Elektrifizierung unseres Alltags. Durch den wachsenden Einsatz von Leistungselektronik überall in unserem Umfeld – von E-Mobility bis Windkraft, von Solar bis E-Bike – ist es wichtiger denn je, die Leistungshalbleiter präzisen Zuverlässigkeitstests zu unterziehen.

SET geht auf die Herausforderungen der Branche ein und nutzt seine Testing-Kompetenz, um innovative Lösungen für Leistungshalbleitertests als dynamische und statische H3TRB / DRB / HTRB und HTGB / DGS sowie Power Cyling und IOL-Testsysteme zu entwickeln. Neben hohen DUT-Stückzahlen pro System bieten wir zusätzlich hochauflösende Daten als Analysebasis und reduzieren somit die TCoT bei gleichzeitiger Reduzierung der Testzeit. Profitieren Sie außerdem von unserer langjährigen Erfahrung in der Halbleiterbranche. Darüber hinaus nutzen wir die Zusammenarbeit mit Hochschulen und die Mitgliedschaft im European Center for Power Electronics e.V. (ECPE), um neueste Technologien zu entwickeln, die die aktuellen Anforderungen erfüllen.

Besuchen Sie uns auf unserem Stand auf der PCIM 2022

Dieses Jahr findet die Messe vom 10.-12. Mai 2022 statt. Veranstaltungsgelände ist die Messe Nürnberg. Sie finden uns am Partnerstand der ECPE in Halle 6 am Stand 410. Wir freuen uns, Sie auch im Industrieforum zum Fachvortrag „Challenges in Test & Qualification of Wide Bandgap Materials“ von Frank Heidemann, CEO SET GmbH, begrüßen zu dürfen: Mittwoch, 11.05. I 11:20 – 11:40 Uhr I Fachforum, Halle 6, Stand 6-246

Abstract:
Lifetime and reliability of wide bandgap materials such as SiC and GaN are a highly topical issue. Certain failure patterns, which used to appear with silicon in static tests, show up with SiC only in novel dynamic test methods – and also completely new effects. Reliability test systems for these power electronics must therefore increasingly be able to cover dynamic tests as well. This leads to completely new requirements that challenge the entire industry.

Besuchen Sie uns auf der PCIM 2022 und erfahren Sie mehr über unsere innovativen Halbleitertestsysteme. Vereinbaren Sie gerne vorab einen Termin – Wir freuen uns über einen persönlichen Austausch mit Ihnen!

Über die PCIM Europe

Die PCIM Europe Konferenz und internationale Fachmesse ist eine anwenderorientierte Plattform mit aktuellen Vorträgen aus allen Gebieten der Leistungselektronik.